Recursos
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Blog
Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Español
(mayo 12, 2021)
Guía de referencia
CT440/CTP10 selection guide - English (United States)
(diciembre 01, 2022)
Folletos y catálogos
Passive component characterization - English
(diciembre 01, 2022)
Folletos y catálogos
Passive component characterization - 中文
(diciembre 01, 2022)
Hoja de especificaciones
CT440/440-PDL optical component tester - English (United States)
Hoja de especificaciones
CT440/440-PDL optical component tester - Français (Canada)
Hoja de especificaciones
CT440/440-PDL optical component tester - 中文(中国)
Notas de aplicación
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English
(mayo 08, 2018)
Notas de aplicación
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English
(julio 27, 2018)
Notas de aplicación
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English
(abril 23, 2019)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - English (United States)
(febrero 03, 2023)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文(中国)
(febrero 03, 2023)
Informe técnico
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English (United States)
(mayo 15, 2019)
Folletos y catálogos
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(mayo 04, 2023)