Specifications

Technical specifications
Product type Benchtop
Hoja de especificaciones

Características principales

Medición rápida de función de transferencia
Rango de longitud de onda de entre 1240 nm y 1680 nm (modelo SMF)
Opciones PM y PDL
Resolución de longitud de onda de entre 1 pm y 250 pm
Precisión de longitud de onda de ±5 pm
Rango dinámico de 65 dB en una sola barrida
Combina hasta cuatro láseres ajustables (modelo SMF)
Cuatro detectores internos, expansibles con sincronización

Aplicaciones

Pruebas de circuitos integrados fotónicos (PIC)
Pruebas de conmutadores selectivos de longitud de onda
Pruebas de filtros ópticos

Description

CT440, el evaluador compacto de EXFO, posibilita pruebas rápidas y precisas de componentes ópticos pasivos (p. ej., MUX/DEMUX, filtros, divisores) y módulos (ROADM,WSS). Además, la unidad abarca un rango espectral de entre 1240 nm y 1680 nm, lo que permite realizar mediciones en toda la banda de telecomunicaciones. Con la opción PDL, CT440 puede medir simultáneamente la pérdida de inserción y la pérdida dependiente de polarización.

Barrido de banda completa

CT440 (modelo SMF) puede funcionar entre 1240 nm y 1680 nm, y es totalmente compatible con la serie T100S-HP de láseres ajustables de EXFO. Cuando se usan varios TSL, CT440 puede cambiar automáticamente de un láser a otro para permitir mediciones de banda completa impecables. La conexión única con el DUT significa que no se necesita ningún conmutador externo.

Medición rápida de pérdidas de inserción

CT440 cuenta con una exclusiva combinación de un sistema electrónico de alta velocidad con interferometría óptica. Los cuatro detectores integrados permiten medir simultáneamente cuatro canales con un rango dinámico de 65 dB en una sola barrida de láser. Además, la precisión de longitud de onda de ±5 pm se logra a cualquier velocidad de barrido, sin poner en riesgo ni la velocidad de medición, ni la precisión.

Medición precisa de pérdida de inserción

CT440 es una solución con una buena relación costo-beneficio que no afecta el rendimiento. Al contar con fotodetector de monitoreo, resolución de tomas de muestras ajustable, precisión de longitudes de onda superior y ondímetro incorporado, brinda todo lo necesario para lograr mediciones precisas en una sola caja cuando se lo conecta una fuente de láser ajustable y una PC.

Filters

Idioma
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Guía de referencia
CT440/CTP10 - English (diciembre 01, 2022)
Blog
Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Español (mayo 12, 2021)
Folletos y catálogos
Passive component characterization - English (diciembre 23, 2024)
Folletos y catálogos
Passive component characterization - 中文 (diciembre 23, 2024)
Notas de aplicación
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English (mayo 08, 2018)
Notas de aplicación
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English (julio 27, 2018)
Notas de aplicación
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English (abril 23, 2019)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - English (diciembre 17, 2024)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文 (diciembre 17, 2024)
Informe técnico
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English (mayo 15, 2019)
Folletos y catálogos
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English (diciembre 23, 2024)
Volantes y panfletos
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (junio 20, 2023)
Volantes y panfletos
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (junio 20, 2023)
Volantes y panfletos
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (junio 20, 2023)

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