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Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Español
(mayo 12, 2021)
Seminarios web
Testing cutting-edge optical components with cutting-edge technologies - Español
(mayo 16, 2023)
Notas de aplicación
Thin film filters: optical testing with the CTP10 test platform - English
(marzo 27, 2023)
Folletos y catálogos
Passive component characterization - English
(diciembre 01, 2022)
Folletos y catálogos
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(diciembre 01, 2022)
Notas de aplicación
Sub-picometer measurements using the CTP10 logging function - English
(marzo 23, 2020)
Declaración de conformidad
[DOC-114-288] CTP10 | CE - English (United States)
(enero 10, 2019)
Manual del usuario
CTP10 - English
(octubre 12, 2023)
Notas de aplicación
OFDR measurement using the CTP10 test platform - English
(marzo 27, 2023)
Notas de aplicación
IL and RL characterization of PM optical components - English
(marzo 27, 2023)
Notas de aplicación
CTP10 test platform: sharing configuration for manufacturing environments - English
(julio 24, 2020)