FTBx-2250 - Source optique à large bande

Compacte, robuste et hautement fiable, cette source optique est la solution par excellence pour les tests en laboratoire

Fiche technique Manuel utilisateur

Key Features

Diode électroluminescente (DEL) dans le domaine spectral CWDM (de 1460 à 1620 nm)

Puissance de sortie invariable

Source optimisée pour une puissance parfaitement stable

Haute densité spectrale

Specifications

Technical specifications
Product type	Module

Fiche technique

Full Description

Covering all the bands required for telecom applications, the FTBx-2250 is the best choice for broadband applications, CWDM network testing, PON component manufacturing and testing as well as fiber-optic sensing and spectroscopy.

Single output source

The SCLi option, used for CWDM testing, features a very cost-effective test setup for accurate characterization of fiber links and their passive components.

Designed for component testing

Enables measurement of high-level insertion loss. When combined with an OSA, enables efficient qualification of components during development stage or pass/fail testing during production.

High spectral-density stability

High-spectral density stability is critical to ensuring that tests produce accurate measurements every time.

Live Demo

Caractéristiques principales

Diode électroluminescente (DEL) dans le domaine spectral CWDM (de 1460 à 1620 nm)

Puissance de sortie invariable

Source optimisée pour une puissance parfaitement stable

Haute densité spectrale

Description

Couvrant toutes les bandes requises pour les applications télécoms, le FTBx-2250 est le meilleur choix pour les applications à large bande, les tests de réseaux CWDM, la fabrication et les tests de composants PON ainsi que la détection et la spectroscopie des fibres optiques.

Source à sortie unique

L'option SCLi, utilisée pour les tests CWDM, offre une configuration de test très rentable pour la caractérisation précise des liaisons par fibre et de leurs composants passifs.

Conçue pour les tests de composants

Permet de mesurer la perte d'insertion de haut niveau. Associé à un OSA, il permet une qualification efficace des composants au cours de la phase de développement ou un test réussite/échec au cours de la production.