CT440/CT440-PDL -

Compact tester for fast and accurate characterization of passive optical components

Key Features

Combines up to four tunable lasers (SMF type)
Testing up to four channels at a time (4 optical detectors)
Compatible with several tunable laser types
Polarization maintaining fiber (PMF) option
PDL measurement option
Specifications maintained at 100 nm/s sweep speed

Specifications

Technical specifications
Product type Benchtop
Fiche technique

Caractéristiques principales

Mesure rapide de la fonction de transfert optique
Domaine spectral de 1240 à 1680 nm (modèle SMF)
Options de surveillance de la performance (PM) et de perte dépendante de la polarisation (PDL)
Résolution de longueur d’onde de 1 à 250 pm
Précision de longueur d’onde de ±5 pm
Plage dynamique 65 dB en un seul balayage
Possibilité de combiner jusqu’à quatre lasers accordables (modèle SMF)
Quatre détecteurs internes de série, ajouts possibles pour la synchronisation

Applications

Test de circuits intégrés photoniques (PIC)
Test de commutateurs sélectifs en longueur d'onde
Test de filtres optiques

Description

Avec son testeur compact CT440, EXFO accélère les tests de précision des composants optiques passifs (MUX/DEMUX, filtres, séparateurs, etc.) et des modules (ROADM, WSS). Son domaine spectral de 1240 à 1680 nm couvre l’intégralité de la bande passante. L’option perte dépendante de la polarisation (PDL) permet de mesurer simultanément la perte d’insertion (IL).

Bande passante intégrale

Le testeur CT440 (modèle SMF) couvre un domaine spectral de 1240 à 1680 nm grâce à sa compatibilité avec les lasers accordables T100S-HP d’EXFO. Il peut donc passer automatiquement d’un laser à l’autre pour mesurer en continu l’intégralité de la bande. La présence d’un dispositif sous test (DUT) élimine la nécessité d’un interrupteur externe.

Mesure rapide de la perte d’insertion (IL)

Combinant l’électronique à grande vitesse et l’interférométrie optique, le CT440 et ses quatre détecteurs intégrés mesurent simultanément quatre canaux en un seul balayage de la plage dynamique 65 dB. De plus, la précision de longueur d’onde de ±5 pm peu importe la vitesse de balayage garantit une exécution rapide et des résultats de grande précision.

Mesure précise de la perte d’insertion (IL)

Solution économique et hautement précise, le testeur CT440 réunit dans un seul boîtier un photodétecteur de surveillance, la résolution d’échantillonnage réglable, une rare précision de longueur d’onde et un ondemètre intégré. Interfacé avec une source laser accordable et un PC, il livre rapidement des mesures d’une grande exactitude.

Guides de poche
CT440/CTP10 - English (01 décembre 2022)
Blogue
Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Français (12 mai 2021)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - English (23 décembre 2024)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - 中文 (23 décembre 2024)
Bulletins techniques
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English (08 mai 2018)
Bulletins techniques
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English (27 juillet 2018)
Bulletins techniques
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English (23 avril 2019)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - English (17 décembre 2024)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文 (17 décembre 2024)
Livres blancs
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English (15 mai 2019)
Brochures et catalogues
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English (23 décembre 2024)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (20 juin 2023)

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