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Blogue
Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Français
(12 mai 2021)
Guides de poche
CT440/CTP10 selection guide - English (United States)
(01 décembre 2022)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - English
(01 décembre 2022)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - 中文
(01 décembre 2022)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - Testeur de composants optiques - English (United States)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - Testeur de composants optiques - Français (Canada)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - Testeur de composants optiques - 中文(中国)
Bulletins techniques
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English
(08 mai 2018)
Bulletins techniques
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English
(27 juillet 2018)
Bulletins techniques
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English
(23 avril 2019)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - English (United States)
(03 février 2023)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文(中国)
(03 février 2023)
Livres blancs
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English (United States)
(15 mai 2019)
Brochures et catalogues
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(04 mai 2023)