Ressources
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Guides de poche
CT440/CTP10 - English
(01 décembre 2022)
Blogue
Mastering the Mueller method with swept IL-PDL measurements - Français
(12 mai 2021)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - English
(23 décembre 2024)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - 中文
(23 décembre 2024)
Bulletins techniques
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English
(08 mai 2018)
Bulletins techniques
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English
(27 juillet 2018)
Bulletins techniques
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English
(23 avril 2019)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - English
(17 décembre 2024)
Affiches de référence
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文
(17 décembre 2024)
Livres blancs
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English
(15 mai 2019)
Brochures et catalogues
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(23 décembre 2024)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語
(20 juin 2023)