The advent of 5G, accompanied by technologies like silicon photonics and other integrated optics, has triggered the rapid transformation of the testing requirements for passive optical components. There are new things to consider now with the appearance of WDM channels spaced closer together, optical filters with sharper spectrums or high-port-count optical components. Let’s take a look how to address these parametric testing challenges.
Commande électronique. Réglage précis et distinct de la longueur d’onde centrale et de la largeur de bande. Domaine spectral de 1260 à 1650 nm et largeur de bande de 32 pm (4 GHz) à 5 nm.
Filtre XTM-50 à réglage précis et distinct de la longueur d’onde centrale et de la largeur de bande. Commande manuelle. Versions compatibles avec les principales longueurs d’onde utilisées en télécommunications : domaine spectral de 1260 à 1650 nm et largeur de bande de 32 pm (4 GHz) à 5 nm.
La solution la plus avancée et la plus rentable pour les laboratoires de recherche et les unités de production. Émission spontanée selon un rapport signal-source supérieur à 90 dB.
Accélère la caractérisation de précision des composants optiques passifs
Plate-forme inégalée de test de composants optiques passifs pour les composants WDM et les circuits intégrés photoniques
Instrument le plus rapide basé sur un réseau de diffraction fonctionnant de 1250 à 1700 nm. Permet un balayage rapide, précis et à grande plage dynamique. Écran tactile unique avec commande gestuelle multitouch.
