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Fiche technique
T500S - English (United States)
(17 août 2023)
Fiche technique
T500S - Français (Canada)
(17 août 2023)
Fiche technique
T500S - 中文(中国)
(17 août 2023)
Fiche technique
T200S - English (United States)
(14 mars 2023)
Fiche technique
T200S - Français (Canada)
(14 mars 2023)
Fiche technique
T200S - 中文(中国)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - English (United States)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - Français (Canada)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - 中文(中国)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - 日本語 (日本)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Component and PIC testing - English (United States)
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Component and PIC testing - 中文(中国)
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Component and PIC testing - 日本語 (日本)
(20 juin 2023)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - English
(01 décembre 2022)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - 中文
(01 décembre 2022)
Webinar
Spectral characterization of photonic integrated circuits - Français
(16 mai 2023)
Livres blancs
125 - Testing the optical characteristics of photonics integrated circuits - English (United States)
(21 avril 2021)
Livres blancs
125 - Testing the optical characteristics of photonics integrated circuits - 中文(中国)
(21 avril 2021)
Blogue
Tiny PICs with Huge Impact: Meeting the Challenges of Photonic Integrated Circuit (PIC) testing for next-generation networks - Français
(14 avril 2020)
Dépliants et prospectus
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English (United States)
(30 septembre 2022)
Vidéos promotionnelles
Automated wafer-level testing of photonic integrated circuits - Français
(18 mai 2023)