EXFO推出针对网络设备制造商设计的OSA

加拿大魁北克市，2017年3月16日 — EXFO Inc.（NASDAQ：EXFO；TSX：EXF）宣布推出专用于研发实验室和制造环节的FTBx-5245系列光谱分析仪（OSA）。网络设备制造商（NEM）目前正面临着前所未见的转型挑战，因此必须能够更快地进行创新，与此同时控制成本并敏捷灵活地扩大生产规模。得益于在相干网络测试方面的高性能，FTBx-5245 OSA进一步推动了光谱测试的发展。它功能多样，从而帮助NEM大幅提高自己的投资回报。

FTBx-5245 OSA可提供一整套光谱分析功能，涵盖激光器、TOSA、发射器乃至整个光学系统。它支持实验室研发和制造环节中的关键测量，如边模抑制比（SMSR）、中心波长和半高全宽。此外，FTBx-5245还提供一整套专用于实验室和制造应用的模式，如光源测试（DFB和法布里-珀罗）、长期光源特性分析（漂移模式）、EDFA分析和光谱透射率分析。

EXFO测试与测量业务副总裁Stéphane Chabot说：“这款OSA为研发CWDM/DWDM技术和网络元器件的NEM带来了高性能的光谱测试。它具备多种测量功能，能够帮助NEM大幅提高自己的投资回报。”

该OSA用于CWDM/DWDM网络分析，安装在易于扩展的LTB-8平台内，而LTB-8平台可提供出色的端口密度，从而充分利用机架空间并降低成本。LTB-8平台的八插槽配置可同时容纳多达8个100G模块，支持多种接口测试组合。因此，LTB-8平台可容纳新推出的FTBx-5245、光功率计、可变光衰减器、开关和FTBx-88200NGE多业务传输模块。这种广泛的实验室模块组合可提供一整套针对系统设计、研发和部署测试开发的实验室测试功能，实现强大的测试编排灵活性。

如欲了解FTBx-5245 OSA的详情，敬请在2017年3月21-23日举办的OFC期间（美国加州洛杉矶市）莅临EXFO展台（#2725）或访问EXFO.com。

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