OPAL-SD - 单裸片自动化探针台

非常精准、可重复、可追溯、快速且灵活的光子集成电路(PIC)测试。

使用自动化探针台来测试光子集成电路(PIC)

迅速、自信地加快研发和制造流程。

OPAL-SD是完全集成的探针台,可测试单个光子集成芯片。它集成了顶尖的设备,以确保满足非常严格的要求,同时又非常灵活,可随着您的需求不断发展。 可根据需要为其配备RF探针、光探针或任何其它设备。

OPAL-SD平台

OPAL单裸片PIC测试台由4轴手动针座、卡盘、电动光探针、手动电探针和顶视视觉系统组成。该测试台还配备一个侧面摄像头、一台服务器级PC和一个PILOT软件套件的许可证。

它提供裸片级全自动位移光探针和手动电探针。在结合了EXFO系列仪表的先进光学测量功能相后,可为光谱分析以及误码率等光电测试提供无与伦比的解决方案。OPAL-SD探针台可结合PILOT软件套件,成为一款全面、灵活、可扩展的解决方案。

PILOT自动化软件

PILOT软件套件为单裸片测试台带来了强大的功能,将其变成一个自动的测试台和高品质的测量结果来源,可对测量结果进行处理,成为可付诸实施的数据。整套应用支持完整的测试和测量流程,帮助用户提升业务的数据驱动程度。

测序环境提供了仪器驱动程序、分析工具和内置优化算法。它采用低代码开发方法,带来不需要专业技术的编程体验。用户可建立先进的测试序列、更换硬件并无缝地执行测试序列。系统在执行过程中会跟踪所有实验和硬件条件。

借助分析工具,用户可以根据定义的逻辑条件,同步或异步地启动计算。

主要优点

用于PIC测试和鉴定的研究级解决方案
灵活的设计与可重新配置的探针
用于测量自动化和数据处理的软件套件
超精密的光探针——尤其适用于表面和边缘耦合测试
高精度DC、RF手动探针定位器

应用

研发环境中的光子集成裸片测试
PIC光学和电子鉴定
收发器光学子系统研发

支持