OPAL-SD - Single-die automated probe station

Entry-level, flexible, cost-effective and upgradeable. Automated optical alignment and test of photonic integrated circuits (PIC) with traceable results that can be queried. Manual positioning of die and electrical probes.

规格书

Key Features

Characterization of a single singulated die
Research-grade solution for PIC testing and characterization
Flexible design with repositionable optical and electrical RF/DC heads
Preparation, automated execution (alignment, instrument control) and data management (repository, analysis) with PILOT software
Different optical head options, as needed: Up to 6 motorized axes for surface and edge coupling with single fibers or fiber arrays
Precise DC and RF probing positioners

使用自动化探针台来测试光子集成电路（PIC）

迅速、自信地加快研发和制造流程。

OPAL-SD是完全集成的探针台，可测试单个光子集成芯片。它集成了顶尖的设备，以确保满足非常严格的要求，同时又非常灵活，可随着您的需求不断发展。 可根据需要为其配备RF探针、光探针或任何其它设备。

OPAL-SD平台

OPAL单裸片PIC测试台由4轴手动针座、卡盘、电动光探针、手动电探针和顶视视觉系统组成。该测试台还配备一个侧面摄像头、一台服务器级PC和一个PILOT软件套件的许可证。

它提供裸片级全自动位移光探针和手动电探针。在结合了EXFO系列仪表的先进光学测量功能相后，可为光谱分析以及误码率等光电测试提供无与伦比的解决方案。OPAL-SD探针台可结合PILOT软件套件，成为一款全面、灵活、可扩展的解决方案。

PILOT自动化软件

PILOT软件套件为单裸片测试台带来了强大的功能，将其变成一个自动的测试台和高品质的测量结果来源，可对测量结果进行处理，成为可付诸实施的数据。整套应用支持完整的测试和测量流程，帮助用户提升业务的数据驱动程度。

测序环境提供了仪器驱动程序、分析工具和内置优化算法。它采用低代码开发方法，带来不需要专业技术的编程体验。用户可建立先进的测试序列、更换硬件并无缝地执行测试序列。系统在执行过程中会跟踪所有实验和硬件条件。

借助分析工具，用户可以根据定义的逻辑条件，同步或异步地启动计算。

主要优点

用于PIC测试和鉴定的研究级解决方案
灵活的设计与可重新配置的探针
用于测量自动化和数据处理的软件套件
超精密的光探针——尤其适用于表面和边缘耦合测试
高精度DC、RF手动探针定位器

应用

研发环境中的光子集成裸片测试
PIC光学和电子鉴定
收发器光学子系统研发

资源

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博客
Challenges of integrated photonics: testing high-precision microring resonators - 中文 (2024年11月25日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - English (2024年7月19日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 中文 (2024年7月19日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 日本語 (2024年7月19日)
规格书
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - Français (2024年7月19日)
手册和产品目录
Optical testing solutions for universities and labs - English (2024年12月23日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - Français (2025年5月21日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - 中文 (2025年5月21日)

支持

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