BA-4000 - Electrical 800G Bit Error Rate Tester

Electrical BER tester supporting NRZ and PAM4 coding, with advanced FEC tools and with testing capabilities up to 800G.

Key Features

BA-4000 includes an extended range of electrical bit error rate tester for 100G/400G/800G
Support scramble idle pattern with FGC hardware option and FLR available
7 taps and inner eyes tuning
FEC simulator for 26G and 53G
Channel histogram
FEC margin
Channel mapping
Channel simulator

Specifications

Technical specifications
Product type Benchtop
规格书

主要优点

支持100G(4x28 GBd)、400G(8x56 GBd)和800G(8x56GBd)速率
支持NRZ和PAM4编码
支持PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q和SSPRQ码型
FEC功能:生成RS-FEC Scrambled Idle码型,以测试53 GBd host侧接口
通道模拟
插入突发/随机的错误
支持线性/格雷码映射
O-SMPM连接

应用

光模块测试与验证
TOSA和ROSA等组件测试
FPGA、MCB和HCB测试

Description

误码率(BER)是数字通信的一个关键性能属性。可使用误码率分析仪来评估网络、子系统或器件传输信号的质量,它将收到的数据流与发送的数据流进行对比,从而计算出误码数。

BA-4000误码率分析仪是一种NRZ/PAM4电误码率分析仪,针对生产线进行设计。它有六种型号可供选择:

  • BA-4000-4-28-NRZ:100G误码率分析仪,支持4通道NRZ 28 Gbit/s测试。
  • BA-4000-8-28-NRZ:200G误码率分析仪,支持8通道NRZ 28 Gbit/s测试。
  • BA-4000-4-28-PAM:100G/200G误码率分析仪,支持4通道NRZ 28 Gbit/s或4通道PAM4 28 GBd测试。
  • BA-4000-4-56-PAM:200G/400G误码率分析仪,支持4通道NRZ 56 Gbit/s或4通道PAM4 56 GBd测试。
  • BA-4000-8-28-PAM:200G/400G误码率分析仪,适用于8通道NRZ 28 Gbit/s或8通道PAM4 28 GBd测试。
  • BA-4000-8-56-PAM:400G/800G误码率分析仪,适用于8通道NRZ 56 Gbit/s或8通道PAM4 56 GBd测试。

BA-4000误码率分析仪利用FEC模拟功能,提供强大的突发错误分析。主要的FEC功能包括:

  • PRBS错误检测和修正
  • Pre-FEC和Post-FEC BER统计
  • KP4/KR4和低延迟FEC协议
  • 配备FEC码型生成器和检测器(FGC),生成RS-FEC Scrambled Idle码型
  • FEC符号错误分布图:码字 vs 符号错误
  • FEC余量自动计算
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - English (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - Français (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 日本語 (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 中文 (2025年3月12日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - English (2025年4月08日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - 日本語 (2025年4月08日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - Français (2025年4月08日)
用户手册
BA-4000 Bit Analyzer - English (2021年11月01日)
网络研讨会
Optimizing power usage as data centers shift to 800G - 中文 (2024年1月17日)
博客
如何应对可插拔收发器的端到端测试挑战? - 中文 (2021年1月17日)
网络研讨会
From 400G to 800G: encoded FEC - 中文 (2023年5月17日)
网络研讨会
Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - 中文 (2023年5月16日)
应用说明
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English (2020年3月20日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - English (2022年11月23日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - Français (2022年11月23日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - English (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 中文 (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 日本語 (2021年10月26日)

支持