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Tests avancés pour les technologies 400G dans les unités de R.-D. et en laboratoire
Ressources
Toutes les ressources
Manuel utilisateur
BA-4000 Bit Analyzer - English
(01 novembre 2021)
Webinar
Optimizing power usage as data centers shift to 800G - Français
(17 janvier 2024)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - English
(27 janvier 2025)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - Français
(27 janvier 2025)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - 中文
(27 janvier 2025)
Blogue
How to address challenges in the end-to-end qualification of pluggable transceivers? - Français
(17 janvier 2021)
Webinar
From 400G to 800G: encoded FEC - Français
(17 mai 2023)
Webinar
Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - Français
(16 mai 2023)
Bulletins techniques
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English
(20 mars 2020)
Addendum
Avis informations importantes - BA-4000 - English
(23 novembre 2022)
Addendum
Avis informations importantes - BA-4000 - Français
(23 novembre 2022)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - English
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 中文
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 日本語
(26 octobre 2021)
Bulletins techniques
Testing next-gen PIC-based transceivers - English
(07 juillet 2021)