BA-4000 - Testeur de taux d'erreur binaire électrique 800G

Fiche technique

BA-4000 – Câble et connecteurs RF - English (02 juillet 2021)

Fiche technique

BA-4000 – Câble et connecteurs RF - 中文 (02 juillet 2021)

Fiche technique

BA-4000 – Câble et connecteurs RF - Français (02 juillet 2021)

Dépliants et prospectus

Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (20 juin 2023)

Dépliants et prospectus

Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (20 juin 2023)

Dépliants et prospectus

Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (20 juin 2023)

Dépliants et prospectus

BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - English (26 octobre 2021)

Dépliants et prospectus

BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 中文 (26 octobre 2021)

Dépliants et prospectus

BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 日本語 (26 octobre 2021)

Dépliants et prospectus

EXFO demos - OIF interops - English (18 mars 2022)

Dépliants et prospectus

PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語 (26 octobre 2021)

Déclaration de conformité

[DOC-114-287] BA-4000 | CE - English (29 juin 2021)

Démos produits

800G bit-error-rate testing enhanced with FEC capabilities - Français (18 mai 2023)

Démos produits

Leading-edge BER testing up to 800G - Français (18 mai 2023)

Vidéos promotionnelles

Overcoming E2E transceiver testing challenges with EXFO - Français (18 mai 2023)

Blogue

Le 64G Fibre Channel : comprendre le processus de test et de validation - Français (19 mars 2024)