CTP10 - Plateforme de test pour composants optiques passifs

Plate-forme inégalée de test de composants optiques passifs pour les composants WDM et les circuits intégrés photoniques

Key Features

Caractérisation optique (IL, PDL, RL) et photocourant à l'aide de la technique de la longueur d'onde balayée
Première mesure PDL pleine bande de l'industrie de 1260 à 1620 nm
Combinaison unique de gamme dynamique élevée, de précision, de résolution sub-picométrique et de vitesse de test
Solution intégrée avec interface graphique embarquée et analyse intégrée
Architecture évolutive pour les environnements de R&D et de fabrication
Double fonction : Déclenchement optique à l'aide d'un module dédié / Déclenchement électrique à l'aide d'une fonctionnalité d'enregistrement​

Applications

Caractérisation spectrale des composants photoniques intégrés avec résolution sub-picométrique
Tests de composants optiques passifs à sorties multiples dans les secteurs de la fabrication et de la R&D
Calibration et tests WSS et ROADM
Caractérisation des filtres à couche mince (TFF)
Fonction d'enregistrement des phénomènes transitoires optiques
Caractérisation spectrale à l'aide d'un déclencheur électrique provenant d'un laser accordable

Specifications

Technical specifications
Product type Platform
Fiche technique

Full Description

The CTP10 is a modular passive optical component testing platform that combines speed, accuracy and flexibility. It offers reliable high-quality insertion loss (IL), return loss (RL) or polarization-dependent loss (PDL) measurement regardless of wavelength range or spectral characteristics of the device under test. It operates together with EXFO’s series of swept tunable lasers to perform these measurements within seconds and can be configured to acquire photocurrent measurements directly from external photodiodes.

Thanks to its modular configuration, it is the ideal instrument to characterize large port count components used in WDM networks and photonic integrated circuits (PIC).



Next-gen platform and modules

Thanks to its innovative approach, the CTP10 also greatly reduces setup time and simplifies spectral characterization by taking care of many complex operations. Indeed, tunable laser sweep, data collection and processing for IL, RL or PDL, trace display and analysis are all performed from a single instrument.

The CTP10 platform is compatible with a selection of key modules for spectral characterization (IL PDL & IL PDL OPM2 modules or IL RL OPM2), wavelength control (SCAN SYNC and FBC modules), optical detection (OPMx module) and photocurrent meters (PCMx module). These fully integrated modules are hot-swappable and quickly reconfigurable to greatly reduce setup time and provide a flexible and evolutive test solution.

The CTP10 can also be set up to receive external triggers coming from a tunable laser and record optical power or photocurrent as​ a function of wavelength. In this configuration, the CTP10 only requires OPMLite or PCM modules. The resolution, accuracy and repeatability of the measurement lies with the laser, but the setup benefits from the detectors single gain range and fast averaging time. Additional capabilities include optical power time-logging suited for capturing optical transient phenomenon and analog signal output suited for automated optical alignment processes.

The CTP10 has an embedded operating system for handling and processing large amounts of data. It also offers a scalable architecture by sharing one or several tunable lasers among up to 8 test stations and by adding a secondary mainframe for 100+ ports testing.

Unparalleled performance

The CTP10 offers uncompromising performance and maintains best-in-class specifications at full speed over the full wavelength range of operation with an integrated setup. This combination of speed, accuracy, integration and spectral coverage is unprecedented on the market and ideal as a future-proof testing solution on next generation components such as wavelength selective switches (WSS) or ring-resonators.

The SCAN SYNC module provides a dynamic wavelength measurement with a sampling resolution down to 20 fm and excellent repeatability.

The range-free series of OPMx optical detectors can measure a dynamic range of >70 dB in a single sweep at 100 nm/s with 1 pm resolution. This ability substantially increases manufacturing and R&D throughput. OPMx detectors can also accurately measure extremely sharp spectral features of up to 10 dB/pm (10,000 dB/nm). PCMx photocurrent meters perform equally well when performing tasks such as measuring large current fluctuations coming from PIC-embedded photodiodes. The OPMLite are also particularly suited for detection scheme where tunable laser is connected directly to the power meter for spectral characterization.

Powerful intuitive GUI

The CTP10 has been developed around three key principles: integration, performance and automation. Its embedded software offers a powerful and intuitive GUI that seamlessly controls the measurement process to let you focus on what really matters: measurement data and analysis. Additionally, the CTP10 offers full remote control via SCPI‑compatible commands.

Caractéristiques principales

Caractérisation optique (IL, PDL, RL) et photocourant à l'aide de la technique de la longueur d'onde balayée
Première mesure PDL pleine bande de l'industrie de 1260 à 1620 nm

Combinaison unique de gamme dynamique élevée, de précision, de résolution sub-picométrique et de vitesse de test

Solution intégrée avec interface graphique embarquée et analyse intégrée
Architecture évolutive pour les environnements de R&D et de fabrication

Double fonction : Déclenchement optique à l'aide d'un module dédié / Déclenchement électrique à l'aide d'une fonctionnalité d'enregistrement​

Tests de composants optiques passifs à sorties multiples dans les secteurs de la fabrication et de la R&D

Fonction d'enregistrement des phénomènes transitoires optiques

Caractérisation spectrale à l'aide d'un déclencheur électrique provenant d'un laser accordable

Description

Le CTP10 est une plate-forme modulaire de test de composants optiques passifs qui allie vitesse, précision et flexibilité. Elle offre des mesures fiables et de haute qualité de la perte d'insertion (IL), de la perte de retour (RL) ou de la perte dépendante de la polarisation (PDL), peu importe la gamme de longueurs d'onde ou les caractéristiques spectrales du dispositif à l'essai. Il fonctionne avec la série de lasers accordables à balayage d'EXFO pour effectuer ces mesures en quelques secondes et peut être configuré pour acquérir des mesures de photocourant directement à partir de photodiodes externes.

Grâce à sa configuration modulaire, il s'agit de l'instrument idéal pour caractériser les composants à grand nombre de ports utilisés dans les réseaux WDM et les circuits intégrés photoniques (PIC).

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Plate-forme et modules de nouvelle génération

Grâce à son approche innovante, le CTP10 réduit considérablement le temps de configuration et simplifie la caractérisation spectrale en prenant en charge de nombreuses opérations complexes. En effet, le balayage laser accordable, la collecte et le traitement des données pour IL, RL ou PDL, l'affichage et l'analyse des traces sont réalisés à partir d'un seul instrument.

La plateforme CTP10 est compatible avec une sélection de modules clés pour la caractérisation spectrale (modules IL PDL & IL PDL OPM2 ou IL RL OPM2), le contrôle de la longueur d'onde (modules SCAN SYNC et FBC), la détection optique (module OPMx) et les compteurs de photocourant (module PCMx). Ces modules entièrement intégrés sont interchangeables à chaud et rapidement reconfigurables afin de réduire considérablement le temps d'installation et de fournir une solution de test flexible et évolutive.

Le CTP10 peut également être configuré pour recevoir des déclencheurs externes provenant d'un laser accordable et enregistrer la puissance optique ou le photocourant en fonction de la longueur d'onde. Dans cette configuration, le CTP10 ne nécessite que des modules OPMLite ou PCM. La résolution, la précision et la répétabilité de la mesure dépendent du laser, mais la configuration bénéficie de la plage de gain unique des détecteurs et du temps de moyenne rapide. Les capacités supplémentaires comprennent l'enregistrement temporel de la puissance optique, adapté à la capture des phénomènes transitoires optiques, et la sortie de signal analogique, adaptée aux processus d'alignement optique automatisés.

Le CTP10 est doté d'un système d'exploitation intégré pour la gestion et le traitement de grandes quantités de données. Il offre également une architecture évolutive en partageant un ou plusieurs lasers accordables entre jusqu'à 8 stations de test et en ajoutant un ordinateur central secondaire pour les tests à plus de 100 ports.

Des performances inégalées

Le CTP10 offre des performances sans compromis et maintient les meilleures spécifications de sa catégorie à pleine vitesse sur toute la gamme de longueurs d'onde de fonctionnement avec une configuration intégrée. Cette combinaison de vitesse, de précision, d'intégration et de couverture spectrale est sans précédent sur le marché et constitue une solution de test idéale pour les composants de nouvelle génération tels que les commutateurs sélectifs en longueur d'onde (WSS) ou les résonateurs en anneau.

Le module SCAN SYNC permet une mesure dynamique de la longueur d'onde avec une résolution d'échantillonnage allant jusqu'à 20 fm et une excellente répétabilité.

La série de détecteurs optiques OPMx sans gamme peut mesurer une gamme dynamique de >70 dB en un seul balayage à 100 nm/s avec une résolution de 1 pm. Cette capacité permet d'augmenter considérablement le rendement de la fabrication et de la R&D. Les détecteurs OPMx peuvent également mesurer avec précision des caractéristiques spectrales extrêmement nettes allant jusqu'à 10 dB/pm (10 000 dB/nm). Les photocourantsmètres PCMx sont tout aussi performants lorsqu'il s'agit de mesurer de grandes fluctuations de courant provenant de photodiodes intégrées dans un PIC. Les OPMLite sont également particulièrement adaptés aux schémas de détection dans lesquels le laser accordable est connecté directement au wattmètre pour la caractérisation spectrale.

Puissante interface graphique intuitive

Le CTP10 a été développé autour de trois principes clés : l'intégration, la performance et l'automatisation. Son logiciel embarqué offre une interface graphique puissante et intuitive qui contrôle de manière transparente le processus de mesure pour vous permettre de vous concentrer sur ce qui compte vraiment : les données de mesure et l'analyse. En outre, le CTP10 offre un contrôle à distance complet via des commandes compatibles SCPI.

Prix et reconnaissances

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Advanced module in passive optical component testing platform

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