Ressources
Toutes les ressources
Dépliants et prospectus
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語 (日本)
(26 octobre 2021)
Bulletins techniques
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - English
(14 septembre 2023)
Bulletins techniques
Characterization of spectrally fine responses of optical passive devices - 日本語
(14 septembre 2023)
Bulletins techniques
Insertion loss and return loss: relative measurements using the CTP10 platform - English
(27 mars 2023)
Bulletins techniques
Swept IL PDL measurement of WDM components with the CTP10 platform - English
(28 mars 2023)
Livres blancs
135 - Navigating the murky waters of swept PDL measurements - English (United States)
(25 février 2021)
Fiche technique
T200S - English (United States)
(14 mars 2023)
Fiche technique
T200S - Français (Canada)
(14 mars 2023)
Fiche technique
T200S - 中文(中国)
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English (United States)
(30 septembre 2022)
Démos produits
An overview of EXFO Optics product portfolio - Français
(18 mai 2023)
Démos produits
EXFO's CTP10: Overview of the GUI for swept IL-PDL measurements - Français
(18 mai 2023)
Démos produits
Is your optical component testing future-proof? - Français
(18 mai 2023)