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博客
掌握穆勒矩阵法,进行IL-PDL扫频测量 - 中文
(2021年5月12日)
参考指南
CT440/CTP10 selection guide - English (United States)
(2022年12月01日)
手册和产品目录
无源元器件鉴定 - English
(2022年12月01日)
手册和产品目录
无源元器件鉴定 - 中文
(2022年12月01日)
规格表
CT440/CT440-PDL 光器件测试仪 - English (United States)
规格表
CT440/CT440-PDL 光器件测试仪 - Français (Canada)
规格表
CT440/CT440-PDL 光器件测试仪 - 中文(中国)
应用说明
Assessing passive components using a CT440 or an OSA20 - English
(2018年5月08日)
应用说明
CT440 line detection feature for accurate wavelength measurement - English
(2018年7月27日)
应用说明
Swept IL measurement: Key notions and future-proof solutions - English
(2019年4月23日)
参考海报
测试PIC和无源器件 - English (United States)
(2023年2月03日)
参考海报
测试PIC和无源器件 - 中文(中国)
(2023年2月03日)
白皮书
117 - Optical component testing in a rapidly evolving 5G world - English (United States)
(2019年5月15日)
手册和产品目录
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(2023年5月04日)